O microscópio eletrônico de transmissão (TEM) e o microscópio eletrônico de varredura (MEV) são métodos microscópicos para visualizar espécimes extremamente pequenos. TEM e SEM podem ser comparados em métodos de preparação de amostras e aplicações de cada tecnologia.
Ambos os tipos de microscópios eletrônicos bombardeiam a amostra com elétrons. O TEM é adequado para estudar o interior de objetos. A coloração fornece contraste e o corte fornece amostras ultrafinas para exame. TEM é adequado para o exame de vírus, células e tecidos.
As amostras examinadas por MEV requerem um revestimento condutor, como ouro-paládio, carbono ou platina, para coletar o excesso de elétrons que obscureceria a imagem. O SEM é adequado para visualizar a superfície de objetos, como agregados macromoleculares e tecidos.
Um canhão de elétrons produz um fluxo de elétrons que são focalizados por lentes condensadoras. O feixe condensado e os elétrons transmitidos são focalizados por uma lente objetiva em uma imagem em uma tela de imagem de fósforo. As áreas mais escuras da imagem indicam que menos elétrons foram transmitidos e que essas áreas são mais espessas.
Tal como acontece com o TEM, um feixe de elétrons é produzido e condensado por uma lente. Esta é uma lente de curso no SEM. Uma segunda lente forma os elétrons em um feixe fino e estreito. Um conjunto de bobinas faz a varredura do feixe de maneira semelhante à da televisão. Uma terceira lente direciona o feixe para a seção desejada da amostra. O feixe pode permanecer em um ponto especificado. O feixe pode varrer todo o espécime 30 vezes por segundo.