XRF et XRD sont deux techniques de radiographie courantes. Chacun présente des avantages et des inconvénients par rapport à sa méthode spécifique de numérisation et de mesure. Bien que ces techniques aient de nombreuses applications, XRF et XRD sont principalement utilisées dans les industries scientifiques pour la mesure de composés. Le type de composé et sa structure moléculaire désignent quelle technique sera la plus efficace.
Cristaux
La diffraction des rayons X sur poudre - ou XRD - est utilisée pour mesurer des composés cristallins et fournit une analyse quantitative et qualitative des composés qui ne peuvent pas être mesurés par d'autres moyens. En tirant un rayon X sur un composé, XRD peut mesurer la diffraction du faisceau à partir de différentes sections du composé. Cette mesure peut ensuite être utilisée pour comprendre la composition du composé au niveau atomique, car tous les composés diffractent le faisceau différemment. Les mesures XRD montrent la composition structurelle, le contenu et la taille des structures cristallines.
Métaux
La fluorescence aux rayons X (ou XRF) est une technique utilisée pour mesurer le pourcentage de métaux dans des matrices inorganiques telles que le ciment et les alliages métalliques. XRF est un outil de recherche et développement particulièrement utile dans les industries de la construction. Cette technique est extrêmement utile pour déterminer la composition de ces matériaux, permettant de développer des ciments et des alliages de meilleure qualité.
La vitesse
XRF peut être effectué assez rapidement. Une mesure XRF, qui mesure le métal dans l'échantillon donné, peut être mise en place en moins d'une heure. L'analyse des résultats conserve également l'avantage d'être rapide, ne prenant généralement que 10 à 30 minutes à développer, ce qui contribue à l'utilité de la XRF dans la recherche et le développement.
Limites XRF
Étant donné que les mesures XRF reposent sur la quantité, il existe des limites aux mesures. La limite quantitative normale est de 10 à 20 ppm (parties par million), généralement le minimum de particules requis pour une lecture précise.
XRF ne peut pas non plus être utilisé pour déterminer la teneur en béryllium, ce qui est un inconvénient évident lors de la mesure d'alliages ou d'autres matériaux pouvant contenir du béryllium.
Limites XRD
XRD a également des limitations de taille. Il est beaucoup plus précis pour mesurer de grandes structures cristallines plutôt que de petites. Les petites structures qui ne sont présentes qu'à l'état de traces ne seront souvent pas détectées par les lectures XRD, ce qui peut entraîner des résultats faussés.