Microscopul electronic cu transmisie (TEM) și microscopul electronic cu scanare (SEM) sunt metode microscopice pentru vizualizarea exemplarelor extrem de mici. TEM și SEM pot fi comparate în metodele de pregătire a specimenelor și în aplicațiile fiecărei tehnologii.
Ambele tipuri de microscopuri electronice bombardează specimenul cu electroni. TEM este potrivit pentru studierea interiorului obiectelor. Colorarea oferă contrast, iar tăierea oferă probe ultra subțiri pentru examinare. TEM este foarte potrivit pentru examinarea virușilor, celulelor și țesuturilor.
Eșantioanele examinate de SEM necesită o acoperire conductivă, cum ar fi aur-paladiu, carbon sau platină, pentru a colecta excesul de electroni care ar acoperi imaginea. SEM este bine adaptat pentru a vizualiza suprafața obiectelor, cum ar fi agregatele și țesuturile macromoleculare.
Un pistol de electroni produce un flux de electroni care sunt focalizați de o lentilă condensatoare. Fasciculul condensat și electronii transmiși sunt focalizați de un obiectiv obiectiv într-o imagine pe un ecran de imagine cu fosfor. Zonele mai închise ale imaginii indică faptul că s-au transmis mai puțini electroni și că acele zone sunt mai groase.
Ca și în cazul TEM, un fascicul de electroni este produs și condensat de un obiectiv. Acesta este un obiectiv de curs pe SEM. Un al doilea obiectiv formează electronii într-un fascicul strâns și subțire. Un set de bobine scanează fasciculul în mod similar cu televizorul. Un al treilea obiectiv direcționează fasciculul în secțiunea dorită a specimenului. Raza poate sta pe un punct specificat. Fasciculul poate scana întregul specimen de 30 de ori pe secundă.
