XRF и XRD - это два распространенных рентгеновских метода. У каждого из них есть преимущества и недостатки конкретного метода сканирования и измерения. Хотя эти методы имеют множество применений, XRF и XRD в основном используются в научных отраслях для измерения соединений. Тип соединения и его молекулярная структура определяют, какой метод будет более эффективным.
Кристаллы
Порошковая дифракция рентгеновских лучей - или XRD - используется для измерения кристаллических соединений и обеспечивает количественный и качественный анализ соединений, которые невозможно измерить другими способами. Выполняя рентгеновский снимок соединения, XRD может измерять дифракцию луча от различных участков соединения. Затем это измерение можно использовать для понимания состава соединения на атомном уровне, поскольку все соединения по-разному дифрагируют луч. Измерения XRD показывают структурный состав, содержание и размер кристаллических структур.
Металлы
Рентгеновская флуоресценция или XRF - это метод, который используется для измерения процентного содержания металлов в неорганических матрицах, таких как цемент и металлические сплавы. XRF - это особенно полезный инструмент для исследований и разработок в строительной отрасли. Этот метод чрезвычайно полезен для определения состава этих материалов, позволяя разрабатывать цементы и сплавы более высокого качества.
Скорость
XRF можно выполнить довольно быстро. Измерение XRF, которое измеряет металл в данном образце, можно настроить менее чем за час. Анализ результатов также сохраняет то преимущество, что он является быстрым, обычно на разработку уходит всего 10–30 минут, что способствует полезности XRF в исследованиях и разработках.
Пределы XRF
Поскольку измерения XRF зависят от количества, существуют ограничения на измерения. Нормальный количественный предел составляет от 10 до 20 ppm (частей на миллион), обычно это минимальное количество частиц, необходимое для точных показаний.
XRF также нельзя использовать для определения содержания бериллия, что является явным недостатком при измерении сплавов или других материалов, которые могут содержать бериллий.
Пределы XRD
XRD также имеет ограничения по размеру. Он гораздо более точен для измерения крупных кристаллических структур, чем мелких. Небольшие структуры, которые присутствуют только в следовых количествах, часто не обнаруживаются показаниями XRD, что может привести к искаженным результатам.