Pārraides elektronu mikroskops (TEM) un skenējošais elektronu mikroskops (SEM) ir mikroskopiskas metodes ārkārtīgi mazu paraugu apskatei. TEM un SEM var salīdzināt paraugu sagatavošanas metodēs un katras tehnoloģijas pielietojumā.
Abu veidu elektronu mikroskopi bombardē paraugu ar elektroniem. TEM ir piemērots objektu iekšpuses izpētei. Krāsošana nodrošina kontrastu, un griešana nodrošina īpaši plānus paraugus pārbaudei. TEM ir labi piemērots vīrusu, šūnu un audu pārbaudei.
Paraugiem, kurus pārbauda SEM, ir nepieciešams vadošs pārklājums, piemēram, zelta-pallādijs, ogleklis vai platīns, lai savāktu liekos elektronus, kas aizsegtu attēlu. SEM ir labi piemērots objektu, piemēram, makromolekulāro agregātu un audu, virsmas skatīšanai.
Elektronu lielgabals rada elektronu plūsmu, kuru fokusē kondensatora lēca. Kondensētais stars un pārraidītie elektroni tiek objektīvā objektīvā fokusēti uz fosfora attēla ekrāna attēlu. Tumšāki attēla laukumi norāda, ka tika pārraidīts mazāk elektronu un ka šie laukumi ir biezāki.
Tāpat kā TEM gadījumā, elektronu staru rada un kondensē objektīvs. Tas ir SEM objektīvs objektīvs. Otrais objektīvs veido elektronus stingrā, plānā starā. Spoles komplekts skenē staru līdzīgi kā televīzija. Trešais objektīvs vada staru vēlamajā parauga daļā. Stars var uzturēties noteiktā punktā. Staru var skenēt visu paraugu 30 reizes sekundē.