מיקרוסקופ אלקטרונים תמסורת (TEM) ומיקרוסקופ אלקטרוני סריקה (SEM) הם שיטות מיקרוסקופיות לצפייה בדגימות קטנות במיוחד. ניתן להשוות בין TEM ו- SEM בשיטות הכנת דגימות ויישומים של כל טכנולוגיה.
שני סוגי המיקרוסקופים האלקטרוניים מפציצים את הדגימה באמצעות אלקטרונים. ה- TEM מתאים ללימוד פנים האובייקטים. מכתים מספק ניגודיות והחיתוך מספק דגימות דקות במיוחד לבדיקה. TEM מתאים היטב לבדיקת נגיפים, תאים ורקמות.
דגימות שנבדקו על ידי SEM דורשות ציפוי מוליך כמו זהב-פלדיום, פחמן או פלטינה כדי לאסוף עודפי אלקטרונים שיסתירו את התמונה. SEM מתאים היטב להציג את פני השטח של עצמים כגון אגרגטים ורקמות מקרומולקולריות.
אקדח אלקטרונים מייצר זרם אלקטרונים הממוקדים על ידי עדשת מעבה. הקורה המעובה והאלקטרונים המשודרים ממוקדים על ידי עדשה אובייקטיבית לתמונה על גבי מסך תמונה של זרחן. אזורי תמונה כהים יותר מצביעים על כך שהועברו פחות אלקטרונים וכי אותם אזורים עבים יותר.
כמו ב- TEM, אלומת אלקטרונים מיוצרת ומעובה על ידי עדשה. זוהי עדשת קורס ב- SEM. עדשה שנייה יוצרת את האלקטרונים לקורה הדוקה ודקה. סט סלילים סורק את הקורה באופן דומה לטלוויזיה. עדשה שלישית מכוונת את הקורה לחלק הרצוי של הדגימה. הקורה יכולה להתעכב על נקודה מוגדרת. הקורה יכולה לסרוק את כל הדגימה 30 פעמים בשנייה.