XRF y XRD son dos técnicas de rayos X comunes. Cada uno tiene ventajas y desventajas de su método específico de escaneo y medición. Aunque estas técnicas tienen numerosas aplicaciones, XRF y XRD se utilizan principalmente en industrias científicas para la medición de compuestos. El tipo de compuesto y su estructura molecular designa qué técnica será más eficaz.
Cristales
La difracción de rayos X en polvo, o XRD, se utiliza para medir compuestos cristalinos y proporciona un análisis cuantitativo y cualitativo de compuestos que no pueden medirse por otros medios. Al disparar rayos X a un compuesto, XRD puede medir la difracción del haz de diferentes secciones del compuesto. Esta medida se puede utilizar para comprender la composición del compuesto a nivel atómico, ya que todos los compuestos difractan el haz de manera diferente. Las mediciones de XRD muestran la composición estructural, el contenido y el tamaño de las estructuras cristalinas.
Rieles
La fluorescencia de rayos X, o XRF, es una técnica que se utiliza para medir el porcentaje de metales dentro de matrices inorgánicas como el cemento y las aleaciones metálicas. XRF es una herramienta de investigación y desarrollo especialmente útil en las industrias de la construcción. Esta técnica es extremadamente útil para determinar la composición de estos materiales, lo que permite desarrollar cementos y aleaciones de mayor calidad.
Velocidad
XRF se puede realizar con bastante rapidez. Una medición de XRF, que mide el metal en la muestra dada, se puede configurar en menos de una hora. El análisis de resultados también mantiene la ventaja de ser rápido, por lo general solo toma de 10 a 30 minutos para desarrollarse, lo que contribuye a la utilidad de XRF en investigación y desarrollo.
Límites de XRF
Dado que las mediciones de XRF se basan en la cantidad, existen límites en las mediciones. El límite cuantitativo normal es de 10 a 20 ppm (partes por millón), generalmente las partículas mínimas requeridas para una lectura precisa.
El XRF tampoco se puede utilizar para determinar el contenido de berilio, que es una clara desventaja cuando se miden aleaciones u otros materiales que puedan contener berilio.
Límites de XRD
XRD también tiene limitaciones de tamaño. Es mucho más preciso para medir estructuras cristalinas grandes en lugar de pequeñas. Las pequeñas estructuras que están presentes solo en cantidades traza a menudo no serán detectadas por las lecturas de XRD, lo que puede resultar en resultados sesgados.