XRF och XRD är två vanliga röntgentekniker. Var och en har fördelar och nackdelar med sin specifika metod för skanning och mätning. Även om dessa tekniker har många tillämpningar används XRF och XRD mestadels i vetenskapliga industrier för mätning av föreningar. Typen av förening och dess molekylära struktur anger vilken teknik som är effektivare.
Kristaller
Röntgenpulverdiffraktion - eller XRD - används för att mäta kristallina föreningar och ger en kvantitativ och kvalitativ analys av föreningar som inte kan mätas på annat sätt. Genom att skjuta en röntgen mot en förening kan XRD mäta strålens diffraktion från olika delar av föreningen. Denna mätning kan sedan användas för att förstå sammansättningen av föreningen på atomnivå, eftersom alla föreningar bryter strålen annorlunda. XRD-mätningar visar strukturell smink, innehåll och storlek på kristallina strukturer.
Metaller
Röntgenfluorescens - eller XRF - är en teknik som används för att mäta andelen metaller i oorganiska matriser som cement och metalllegeringar. XRF är ett särskilt användbart forsknings- och utvecklingsverktyg inom byggbranschen. Denna teknik är extremt användbar för att bestämma sammansättningen av dessa material, vilket möjliggör utveckling av cement och legeringar av högre kvalitet.
Hastighet
XRF kan utföras ganska snabbt. En XRF-mätning, som mäter metallen i det givna provet, kan ställas in på under en timme. Resultatanalysen bibehåller också fördelen att vara snabb, det tar vanligtvis bara 10 till 30 minuter att utveckla, vilket bidrar till nyttan av XRF i forskning och utveckling.
XRF-gränser
Eftersom XRF-mätningar är beroende av kvantitet finns det gränser för mätningarna. Den normala kvantitativa gränsen är 10 till 20 ppm (delar per miljon), vanligtvis de minsta partiklar som krävs för en korrekt avläsning.
XRF kan inte heller användas för att bestämma berylliumhalten, vilket är en tydlig nackdel när man mäter legeringar eller andra material som kan innehålla beryllium.
XRD-gränser
XRD har också storleksbegränsningar. Det är mycket mer exakt för att mäta stora kristallina strukturer snarare än små. Små strukturer som endast finns i spårmängder kommer ofta att upptäckas av XRD-avläsningar, vilket kan resultera i snedställda resultat.