전자 회로가 컴퓨터에서 발견 되든 더 전문화 된 장비에서 발견 되든 모든 구성 요소가 올바르게 작동해야합니다. 해당 회로에 포함 된 구성 요소 중 하나라도 실패하면 해당 회로에 연결된 모든 장치에 치명적인 결과를 초래할 수 있습니다. 트랜지스터, 다이오드 및 마이크로 칩과 같은 고장난 활성 구성 요소는 종종 진단하기가 더 어렵습니다. 저항과 같은 수동 구성 요소에 오류가 발생하여 회로 기판 문제 해결에 시간이 많이 걸리고 종종 실망 스러움 방법. 회로의 트랜지스터가 고장난 것으로 의심되면 회로에 다시 전원을 공급하기 전에 멀티 미터로 트랜지스터를 테스트해야합니다.
TL; DR (너무 김; 읽지 않음)
전자 회로의 트랜지스터는 자주 고장 나지 않습니다. 하다 실패하면 회로의 문제를 진단하기 어려울 수 있습니다. 트랜지스터가 문제를 일으키는 것으로 의심되는 경우 트랜지스터 유형에 따라 멀티 미터를 사용하여 회로에서 트랜지스터를 테스트하는 두 가지 방법을 사용할 수 있습니다. 먼저 보드에서 부품을 제거해야하는데, 트랜지스터가 좁은 공간에 설치되는 경우 니들 노즈 펜치가 필요할 수 있습니다.
나쁜 트랜지스터 증상
전자 회로 내에서 트랜지스터와 같은 능동 구성 요소는 저항과 같은 수동 구성 요소와 다르게 동작합니다. 이는 능동 부품이 다양한 전압을 받고 다양한 기능을 수행하도록 설계 되었기 때문입니다. 트랜지스터의 경우 구성 요소는 스위치 또는 전류 증폭기의 역할을하도록 만들어집니다. 트랜지스터의 고장은 전기적 단락 및 전기적 스파이크로 이어질 수 있으며, 이는 특정 환경에서 치명적일 수 있습니다. 위험한. 그러나 이것은 또한 나쁜 트랜지스터 증상을 확인하기 약간 더 쉽게 만들 수 있습니다. 회로가 작동하지 않는 경우 전류 부족 또는 과잉으로 인해 적절하게 트랜지스터가 고장 났을 가능성이 있습니다. 테스트되었습니다.
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접합 전계 효과 트랜지스터 테스트
잠재적으로 결함이있는 트랜지스터는 디지털 멀티 미터로 테스트 할 수 있지만 트랜지스터 유형에 따라 사용되는 테스트 유형이 결정됩니다. 접합 전계 효과 트랜지스터 (JFET)를 테스트하는 경우 멀티 미터 외에 2 개의 1000Ohm 저항을 사용해야합니다. 시작하려면 회로가 전원에서 분리되었는지 확인한 다음 한 쌍의 니들 노즈 플라이어를 사용하여 회로에서 트랜지스터를 제거합니다. 다음으로 첫 번째 저항에서 트랜지스터의 드레인 단자까지 하나의 리드를 비틀십시오. 두 번째 저항에서 트랜지스터의 소스 단자까지 하나의 리드를 비틀십시오. 트랜지스터의 게이트 단자와 함께 두 저항의 자유 리드를 비틀십시오. 30 초 동안 기다린 다음 트랜지스터 단자에서 저항을 제거합니다. 멀티 미터를 켜고 측정 스케일을 "다이오드 테스트"로 설정합니다. n 채널 JFET의 경우 빨간색 멀티 미터 프로브를 트랜지스터 게이트 단자에 연결하고 검정색 멀티 미터 프로브를 드레인에 놓습니다. 단말기. p 채널 JFET의 경우 빨간색 멀티 미터 프로브를 드레인 단자에 놓고 검정색 프로브를 게이트 단자에 놓습니다. 멀티 미터 디스플레이를 확인하십시오. 멀티 미터에 "통과"등급이 표시되면 JFET가 제대로 작동하는 것입니다. 멀티 미터에 "Fail"등급이 표시되면 JFET를 교체합니다.
바이폴라 접합 트랜지스터 테스트
바이폴라 접합 트랜지스터를 테스트해야하는 경우 유사한 단계를 수행 할 수 있지만 저항은 필요하지 않습니다. 멀티 미터를 켜고 측정 스케일을 "다이오드 테스트"로 보냈습니다. NPN 트랜지스터의 경우 트랜지스터베이스 단자에 빨간색 멀티 미터 프로브를 놓고 컬렉터에 검은 색 프로브를 놓습니다. 단말기. PNP 트랜지스터의 경우 검정색 멀티 미터 프로브를베이스 단자에 놓고 빨간색 프로브를 컬렉터 단자에 놓습니다. 멀티 미터 디스플레이를 확인하십시오. 멀티 미터에 "통과"등급이 표시되면 수집기에서 멀티 미터 프로브를 제거하고 이미 터 단자에 놓고 다음 단계로 진행합니다. 멀티 미터에 "Fail"등급이 표시되면 양쪽 단자에서 멀티 미터 프로브를 제거하고 트랜지스터를 교체하십시오.
