Vantaggi e svantaggi di XRD e XRF

XRF e XRD sono due tecniche radiografiche comuni. Ciascuno presenta vantaggi e svantaggi rispetto al proprio metodo specifico di scansione e misurazione. Sebbene queste tecniche abbiano numerose applicazioni, XRF e XRD sono principalmente utilizzate nelle industrie scientifiche per la misurazione dei composti. Il tipo di composto e la sua struttura molecolare indicano quale tecnica sarà più efficace.

La diffrazione di raggi X su polvere, o XRD, viene utilizzata per misurare i composti cristallini e fornisce un'analisi quantitativa e qualitativa dei composti che non possono essere misurati con altri mezzi. Riprendendo una radiografia su un composto, XRD può misurare la diffrazione del raggio da diverse sezioni del composto. Questa misurazione può quindi essere utilizzata per comprendere la composizione del composto a livello atomico, poiché tutti i composti diffrangono il raggio in modo diverso. Le misurazioni XRD mostrano la composizione strutturale, il contenuto e le dimensioni delle strutture cristalline.

La fluorescenza a raggi X, o XRF, è una tecnica utilizzata per misurare la percentuale di metalli all'interno di matrici inorganiche come cemento e leghe metalliche. XRF è uno strumento di ricerca e sviluppo particolarmente utile nelle industrie delle costruzioni. Questa tecnica è estremamente utile per determinare la composizione di questi materiali, consentendo lo sviluppo di cementi e leghe di qualità superiore.

L'XRF può essere eseguito abbastanza rapidamente. Una misurazione XRF, che misura il metallo nel campione dato, può essere impostata in meno di un'ora. L'analisi dei risultati mantiene anche il vantaggio di essere rapida, in genere impiegando solo da 10 a 30 minuti per lo sviluppo, il che contribuisce all'utilità dell'XRF nella ricerca e nello sviluppo.

Poiché le misurazioni XRF si basano sulla quantità, ci sono limiti alle misurazioni. Il limite quantitativo normale è compreso tra 10 e 20 ppm (parti per milione), solitamente le particelle minime richieste per una lettura accurata.

Inoltre, l'XRF non può essere utilizzato per determinare il contenuto di berillio, che è un netto svantaggio quando si misurano leghe o altri materiali che potrebbero contenere berillio.

XRD ha anche limiti di dimensione. È molto più accurato per misurare grandi strutture cristalline piuttosto che piccole. Piccole strutture presenti solo in tracce spesso non vengono rilevate dalle letture XRD, il che può portare a risultati distorti.