Lähetyselektronimikroskooppi (TEM) ja pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM) ovat mikroskooppisia menetelmiä erittäin pienten näytteiden katseluun. TEM: ää ja SEM: ää voidaan verrata näytteiden valmistusmenetelmissä ja kunkin tekniikan sovelluksissa.
Molemmat elektronimikroskooppityypit pommittavat näytettä elektronilla. TEM soveltuu esineiden sisäpuolen tutkimiseen. Värjäys antaa kontrastin ja leikkaus tarjoaa erittäin ohuet näytteet tutkittavaksi. TEM soveltuu hyvin virusten, solujen ja kudosten tutkimiseen.
SEM: n tutkimat näytteet vaativat johtavan pinnoitteen, kuten kulta-palladium, hiili tai platina, ylimääräisten elektronien keräämiseksi, jotka peittävät kuvan. SEM soveltuu hyvin esineiden, kuten makromolekulaaristen aggregaattien ja kudosten, pinnan tarkasteluun.
Elektronipistooli tuottaa elektronivirran, joka on kohdistettu lauhdutinlinssillä. Objektiivilinssi kohdistaa tiivistetyn säteen ja lähetetyt elektronit fosforikuvaruudun kuvaan. Kuvan tummemmat alueet osoittavat, että vähemmän elektroneja lähetettiin ja että nämä alueet ovat paksumpia.
Kuten TEM: n kohdalla, linssi tuottaa ja tiivistää elektronisuihkun. Tämä on SEM: n kurssiobjektiivi. Toinen linssi muodostaa elektronit tiukaksi, ohueksi säteeksi. Käämijoukko skannaa säteen samalla tavalla kuin televisio. Kolmas linssi ohjaa säteen haluttuun näytekohtaan. Säde voi viipyä tietyssä pisteessä. Säde voi skannata koko näytteen 30 kertaa sekunnissa.